EPM7512AE芯片解密技术方案开发

来源：IC解密  特性如下：
高性能和EEPROM的可编程逻辑器件（PLD）的第二代基于Max 架构
5.0- V在系统可编程能力（ISP）
-ISP的电路与IEEE标准兼容
包括5.0- V的MAX 7000器件和5.0- V的互联网服务供应商的最大7000S设备
内建JTAG边界扫描测试（BST）于最大7000S电路设备与128或更多的宏单元
具有完整的EPLD的逻辑密度
5纳秒引脚到引脚的逻辑延时高达175.4 MHz的计数器频率（包括互连）
可用PCI兼容的设备